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Microscópio de Medição de Alta Precisão de 3 Eixos Hawk 200
Hawk 200 combina imagens óticas superiores com estágios de medição de alta precisão para proporcionar medição simples e precisa de 3 eixos de componentes complexos, inclusive, plásticos pretos ou transparentes ...
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Hawk 200 |
Opções de Ampliação |
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
Opções de Iluminação
de Superfície |
Anel luminoso com LED de 8 pontos*
Episcópico 100W (através da lente) |
Iluminação Graduável |
100W gradativo |
Opções do Processador
de Dados |
QC-200*
QC-300
QC-5000
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* opção padrão
Opções de Estágio de Medição de Alta Precisão |
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Opção de Estágio de Medição
150mm x 150mm |
Opção de Estágio de Medição
200mm x 150mm |
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Faixa de
Medição
X
Y
Z  |
150mm
150mm
202 - 255mm |
200mm
150mm
202 - 255mm |
Incerteza de
Medição |
U952D = 4+(5.5L/1000)µm† |
U952D = 2+(4.5L/1000)µm† |
Carga Máxima da
Placa de Vidro |
15kg |
20kg |
Resolução do
Codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,0005mm
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0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
|
Repetitibilidade
do Estágio
X
Y
Z |
0,004mm
0,004mm
0,004mm‡
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0,002mm
0,002mm
0,004mm‡
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Opções de Estágio de Medição de Alta Capacidade |
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Opção de Estágio de Medição
300mm x 225mm |
Opção de Estágio de Medição
400mm x 300mm |
Faixa de
Medição
X
Y
Z |
300mm
225mm
40 - 89mm* |
400mm
300mm
40 - 89mm* |
Incerteza de
Medição |
U952D = 15+(6.5L/1000)µm† |
U952D = 15+(8.5L/1000)µm† |
Carga Máxima da
Placa de Vidro |
25kg |
25kg |
Resolução do
Codificador
X
Y
Z |
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Repetitibilidade
do Estágio
X
Y
Z |
0,010mm
0,010mm
0,010mm
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0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Chave: |
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Dependente da configuração. |
| * |
A distância pode ser aumentada com o acréscimo de uma extensão da base. |
| † |
Onde L = comprimento medido em mm (ampliação de sistema x200, controlada a 20°C, artefato de grade de vidro ou de cromo detectável, com pontos de interseção no plano de medição padrão). |
| ‡ |
Com base na utilização de lente macro 10x (Amplificação do sistema x100). |
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Produtos Correlatos:
Kestrel Elite
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