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Microscópio de Medição de Alta Precisão de 3 Eixos Hawk 200
Hawk 200 combina imagens óticas superiores com estágios de medição de alta precisão para proporcionar medição simples e precisa de 3 eixos de componentes complexos, inclusive, plásticos pretos ou transparentes ...
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Para discutir sua exigência particular, favor contatar seu representante local da Vision Engineering.
Hawk 200 |
Opções de Ampliação |
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
Opções de Iluminação
de Superfície |
Anel luminoso de 6 pontos e 150W*
Episcópico 100W (através da lente) |
Iluminação Graduável |
100W gradativo |
Opções do Processador
de Dados |
QC-200*
QC-300
QC-5000
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* opção padrão
Opções de Estágio de Medição de Alta Precisão |
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Opção de Estágio de Medição
150mm x 150mm
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Opção de Estágio de Medição
200mm x 150mm
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Faixa de Medição
X
Y
(percurso bruto) Z
(percurso fino) Z |
150mm
150mm
230mm
230mm
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Faixa de Medição
X
Y
(percurso bruto) Z
(percurso fino) Z
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200mm
150mm
230mm
230mm
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Carga Máxima da
Placa de Vidro |
10kgs |
Carga Máxima da
Placa de Vidro |
20kgs |
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Resolução do
Codificador
X
Y
Z
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0,001mm
0,001mm
0,0005mm
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Resolução do
Codificador
X
Y
Z
|
0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
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Repetitibilidade do
Estágio
X
Y
Z
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0,002mm
0,002mm
0,008mm
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Repetitibilidade do
Estágio
X
Y
Z
|
0,002mm
0,002mm
0,008mm
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Incerteza de
Medição |
U952D = 4+(5,5L/1000)µm* |
Incerteza de
Medição |
U952D = 2+(4,5L/1000)µm* |
Opções de Estágio de Medição de Alta Capacidade |
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Opção de Estágio de Medição
300mm x 225mm
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Opção de Estágio de Medição
400mm x 300mm
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Faixa de Medição
X
Y
(percurso bruto) Z
(percurso fino) Z
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300mm
225mm
90mm
50mm
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Faixa de Medição
X
Y
(percurso bruto) Z
(percurso fino) Z
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400mm
300mm
90mm
50mm
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Carga Máxima da
Placa de Vidro |
25kgs |
Carga Máxima da
Placa de Vidro |
25kgs |
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Resolução do
Codificador
X
Y
Z
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0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Resolução do
Codificador
X
Y
Z
|
0,001mm
0,001mm
0,001mm
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Repetitibilidade do
Estágio
X
Y
Z
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0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Repetitibilidade do
Estágio
X
Y
Z
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0,010mm
0,010mm
0,010mm
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Incerteza de
Medição |
U952D = 15+(6,5L/1000)µm* |
Incerteza de
Medição |
U952D = 15+(8,5L/1000)µm* |
* onde L = comprimento medido em mm (ampliação de sistema x200, controlada a 20°C, artefato de grade de vidro ou de cromo detectável, com pontos de interseção no plano de medição padrão)
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Produtos Correlatos:
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