Para discutir sua exigência particular, favor contatar seu representante local da Vision Engineering.
Hawk 5000 |
Opções de Ampliação |
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
Opções de Iluminação de Superfície |
Anel luminoso de 6 pontos e 150W*
Episcópico 100W (através da lente)
|
Iluminação Graduável |
100W gradativo |
Opções do Processador de Dados |
QC-200
QC-300
QC-5000*
|
* opção padrão
Opções de Estágio de Medição de Alta Precisão |
|
|
|
Opção de Estágio de Medição 150mm x 150mm
|
Opção de Estágio de Medição 200mm x 150mm
|
|
Faixa de Medição
X Y (percurso bruto) Z (percurso fino) Z
|
150mm
150mm
230mm
230mm
|
Faixa de Medição
X Y (percurso bruto) Z (percurso fino) Z
|
200mm
150mm
230mm
230mm
|
Carga Máxima da Placa de Vidro |
15kgs |
Carga Máxima da Placa de Vidro |
20kgs |
|
Resolução do Codificador
X Y Z
|
0,001mm
0,001mm
0,0005mm
|
Resolução do Codificador
X Y Z
|
0,0005mm
0,0005mm
0,0005mm
|
|
Repetitibilidade do Estágio
X Y Z
|
0,002mm
0,002mm
0,008mm
|
Repetitibilidade do Estágio
X Y Z
|
0,002mm
0,002mm
0,008mm
|
Incerteza de Medição |
U952D = 4+(5,5L/1000)µm* |
Incerteza de Medição |
U952D = 2+(4,5L/1000)µm* |
Opções de Estágio de Medição de Alta Capacidade |
|
|
|
Opção de Estágio de Medição 300mm x 225mm
|
Opção de Estágio de Medição 400mm x 300mm
|
|
Faixa de Medição
X Y (percurso bruto) Z (percurso fino) Z
|
300mm
225mm
90mm
50mm
|
Faixa de Medição
X Y (percurso bruto) Z (percurso fino) Z
|
400mm
300mm
90mm
50mm
|
Carga Máxima da Placa de Vidro |
25kgs |
Carga Máxima da Placa de Vidro |
25kgs |
|
Resolução do Codificador
X Y Z
|
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
Resolução do Codificador
X Y Z
|
0,001mm
0,001mm
0,001mm
|
|
Repetitibilidade do Estágio
X Y Z
|
0,010mm
0,010mm
0,010mm
|
Repetitibilidade do Estágio
X Y Z
|
0,010mm
0,010mm
0,010mm
|
Incerteza de Medição |
U952D = 15+(6,5L/1000)µm* |
Incerteza de Medição |
U952D = 15+(8,5L/1000)µm* |
* onde L = comprimento medido em mm (ampliação de sistema x200, controlada a 20°C, artefato de grade de vidro ou de cromo detectável, com pontos de interseção no plano de medição padrão)
|